4200/4500尼克斯测厚仪简介：
QNix4200和QNix4500这两种型号一体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。其中QNix4200为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层；QNix4500为磁性和涡流两用测厚仪，不仅可以用来测量钢铁等磁性基体，还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层。这两个型号操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。
4200/4500尼克斯测厚仪温度补偿：
涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。
4200/4500尼克斯测厚仪红宝石探头：
探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。
4200/4500尼克斯测厚仪采样技术：
使得测量重复性较传统交流技术有*的*和提高。
4200/4500尼克斯测厚仪用途： 测量钢铁等磁性金属基体上的非磁性涂层、镀层、氧化层，如油漆、粉末、塑料、橡胶、锌、铬、铝、锡等。
零位稳定：
所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。
无需校准：
多数测厚仪除了校零外，还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度，要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。
技术参数： 技术参数 | 磁性基体(Fe模式) | QNix4200/4500均有此功能 | 非磁性基体(NFe模式) | QNix4500有此功能 | 测量范围 | Fe:0-3000um/NFe:0-2000um | 显示精度 | 0.1um | 精度 | 0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%读数 1000-3000um≤±3%读数 | 小接触面 | 10×10mm | 小曲率半径 | 凸面：3mm 凹面：25mm | 小基体厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm | 温度补偿范围 | 0-60℃ | 显示 | LCD液晶(带背光) | 探头 | 红宝石固定式 | 电源 | 2×1.5V干电池 | 尺寸 | 100×60×27mm | 重量 | 110g
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优点：
◆只需调零，无需校准
◆体积小巧，操作方便
◆一机双用，自动识别基体
◆精度高
TT210涂层测厚仪基本配置：
★主机：1
★标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um） 1
★铁基体和铝基体 1
★AAA型（7号）1.5V电池 2
★仪器保护套 。
简介： 是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。
参数：
★测头类型： F/ N。
★测量原理： 磁感应/电涡流。
★测量范围： 0-1250um/0-40um（铜上镀铬）。
★探头连接方式： 一体化。
★示值误差： 一点校准（um） ±[3%H+1]/ ±[3%H+1.5]。
★两点校准（um） ：±[（1～3）%H+1]/ ±[（1%~3%）H+1.5]。
★测量条件 ：zui小曲率半径（mm） 凸1.5 凹9/凸3 凹10。
★基体zui小面积的直径（mm）： ф7/ф5。
★zui小临界厚度（mm） ：0.5/0.3。
★湿度：0~40℃。
★工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）。
★测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。
★上下限设置 ：有。
★存储能力 ：500 个测量值。
★打印/连接计算机： 可选配打印机/不能连接电脑。
★关机方式 ：手动和自动。
★电源 ：二节AAA型（7号）1.5V电池。
★外形尺寸： 110×50×23mm。
★重量：100g。
TT220覆层测厚仪简介：
是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》。
功能特点：
采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。
技术参数：
★测头类型：F。
★测量原理：磁感应。
★测量范围：0-1250um。
★低限分辨力：1?m（10um以下为0.1um）。
★探头连接方式：一体化。
★示值误差：一点校准（um）±[3%H+1]。
★两点校准（um）： ±[（1～3）%H+1]。
★测量条件：zui小曲率半径（mm） 凸 1.5 凹9。
★基体zui小面积的直径（mm）：ф7。
★zui小临界厚度（mm）：0.5。
★温湿度：0~40℃，20%RH～90%RH。
★统计功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、
标准偏差（S．DEV）。
★工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）。
★测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）上下限设置。
★存储能力：15 个测量值。
★打印/连接计算机：可选配打印机/不能连接电脑。
★关机方式：自动。
★电源：二节3.6V镍镉电池。
★外形尺寸：150×55.5×23mm。
★重量：150g。
★基本配置：主机。
★标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
★铁基体。
★充电器。
★可选附件。
★TA230打印机。
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